濟(jì)南創(chuàng)譜儀器有限公司為您提供手動(dòng)探針臺(tái)手動(dòng)測(cè)試晶圓探針臺(tái)失效分析iv測(cè)試光電測(cè)試探針架探針座。產(chǎn)品信息：
在實(shí)際得科研生產(chǎn)中，由于樣品/晶圓wafer得尺寸越來越大，用于測(cè)試的探針臺(tái)相當(dāng)昂貴，我司根據(jù)客戶市場(chǎng)應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧，功能實(shí)用，成本較低的簡(jiǎn)易式探針臺(tái)，在滿足基本測(cè)試功能基礎(chǔ)上，去除了不需要得部件，該探針臺(tái)系統(tǒng)包含：光學(xué)成像部分，隔振平臺(tái)，探針座，四維調(diào)整載片臺(tái)chuck，真空吸附系統(tǒng)；
創(chuàng)譜儀器可以根據(jù)客戶應(yīng)用搭建探針臺(tái)，以達(dá)到較好得使用效果
技術(shù)參數(shù)：
◆樣品臺(tái)xyzr四維調(diào)節(jié)，xy行程根據(jù)樣品臺(tái)尺寸/晶圓尺寸而定，z軸行程10mm，xyz整體分辨率3μm，360°旋轉(zhuǎn)粗調(diào)可鎖緊
◆兼容多種光學(xué)顯微鏡，可以引入光路，完成光電mapping測(cè)試
◆整體尺寸小，方便攜帶，底部隔振地腳，提高測(cè)試穩(wěn)定性
◆漏電流精度：10pa/100fa屏蔽箱內(nèi)
◆探針采用交叉滾珠導(dǎo)軌/精密燕尾槽，線性移動(dòng)，無回程差設(shè)計(jì)
◆1微米以上電極/pad使用
◆u型探針架，可以放置多個(gè)探針座
◆多被用于晶圓測(cè)試、led測(cè)試、功率器件測(cè)試、mems測(cè)試、pcb測(cè)試、液晶面板測(cè)試、太陽(yáng)能電池片測(cè)試、材料表面電阻率測(cè)試等；廣泛用于科研院校以及公司！
聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說明是在云商網(wǎng)上看到的此信息，謝謝！
聯(lián)系電話：15550073138，13287763637，歡迎您的來電咨詢！
本頁(yè)網(wǎng)址：
http://www.fesc.com.cn/g46216919/
推薦關(guān)鍵詞：
探針臺(tái)光電測(cè)試,
光譜測(cè)量系統(tǒng),
科研級(jí)光源,
光學(xué)積分球,
光學(xué)隔振平臺(tái)
登錄后臺(tái)
