存儲器測試的目的是確認在存儲設備中的每一個存儲位置都在工作。換一句---，200度flash芯片存儲器，如果你把數50存儲在一個具體的地址，你希望可以找到存儲在那里的那個數，直到另一個數寫入。任何存儲器測試的基本方法是，往存儲器寫入一些數據，然后根據內存設備的地址，校驗讀回的數據。如果所有讀回的數據和那些寫入的數據是一樣的，那么就可以說存儲設備通過了測試。只有通過認真選擇的一組數據你才可以確信通過的結果是有意義的。
當然，像剛才描述的有儲器的測試不可避免地具有破壞性。在內存測試過程中，150度flash芯片存儲器，你必須覆蓋它原先的內容。因為重寫非易失性存儲器內容通常來說是不可行的，flash芯片，這一部分描述的測試通常只適用于ram 的測試。
服務器在存儲器環境按這樣的方法分配存儲器：在某個環境分配的存儲器可以被環境析構器釋放而不會影響其他環境中分配的存儲器．所有存儲器分配通過 palloc 等都被當作在當前環境的區域中分配存儲器．如果你試圖釋放或再分配不在當前環境的存儲器，你將得到不可預料的結果．
創建存儲器環境和切換存儲器環境是 spi 管理器中存儲器管理器的任務．
spi過程處理兩種存儲器環境：上層執行器存儲器環境和過程存儲器環境
程序存儲器
如果微控制器既利用內部存儲器也利用外部存儲器，則內部存儲器通常被用來存儲不常改變的代碼，而外部存儲器用于存儲更新比較頻繁的代碼和數據。設計---也需要考慮存儲器是否將被在線重新編程或用新的可編程器件替代。對于需要重編程功能的應用，人們通常選用帶有內部閃存的微控制器，但帶有內部otp或rom和外部閃存或eeprom的微控制器也滿足這個要求。為降低成本，150度高溫flash芯片存儲，外部閃存可用來存儲代碼和數據，但在存儲數據時必須小心避免意外修改代碼。
在大多數嵌入式系統中，人們利用閃存存儲程序以便在線升級固件。代碼穩定的較老的應用系統仍可以使用rom和otp存儲器，但由于閃存的通用性，越來越多的應用系統正轉向閃存。
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