其實(shí)利用在檢測芯片的過程當(dāng)中,其實(shí)這種方法是非常有效的,關(guān)于emmi分析國內(nèi)目前的技術(shù)通常已經(jīng)達(dá)到了要求,在對(duì)芯片進(jìn)行檢測過程當(dāng)中,利用微光顯微鏡它的效果通常是非常明顯的。比如說如果說亮點(diǎn)被遮掩的過程當(dāng)中采用的是利用-紅波的發(fā)光,通過拋光的處理來進(jìn)行探測,這樣才能夠有效的去發(fā)現(xiàn)金屬歸沉寂的有效缺陷。
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