一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集，---efp算法 x射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件，led和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.efp算法結(jié)合---定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，x射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中---種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
x射線和β射線法是無接觸無損測量，測厚儀，測量范圍較小，x射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆
x-ray測厚儀特點(diǎn)
1，價格高，機(jī)種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試p磷~u-，涂層測厚儀，并且支持rohs及元素分析功能等。
2，無損檢測，windows操作系統(tǒng)，使用簡便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計算機(jī)除外約100000cm2，50000g左右。
3，測量厚度范圍較廣，
0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。
4，測量精度高，測厚儀，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。
6，可編程xyz測量臺及大移動范圍。
江蘇一六儀器一家---于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。我們-研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名---通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散x熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、---的解譜方法和efp算法結(jié)合---定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。
x射線熒光膜厚測厚儀還應(yīng)用于五金電鍍厚度檢測，首飾電鍍-厚度檢測，電子連接件表層厚度檢測，電鍍液含量分析。電力行業(yè)高壓開關(guān)柜用銅鍍銀件厚度檢測，銅鍍錫件厚度檢測，航空材料金屬鍍層厚度檢測。銅箔鍍層厚度檢測，光伏行業(yè)焊帶銅鍍錫鉛合金厚度檢測，鐵鍍鉻 鍍鋅 鍍鎳厚度檢測等。
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