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芯片檢測顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、-的光電轉換技術、數碼成像技術結合在一起而開發研制成功的一項---產品。既可人工觀察金相圖像，又可以在數碼相機上很方便地適時觀察金相圖像，并以數碼照片記錄下來，從而對金相圖譜進行分析，評級等，芯片檢測顯微鏡報價，還可以數碼沖洗或打印出高像素金相照片。
集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免，隨著人們對芯片產品和-性要求的不斷提高，芯片檢測顯微鏡，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析，可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。
老上光儀器廠生產、芯片檢測顯微鏡，我們為您分析該產品的以下信息。
正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有-的成像效果。
***產品特點
*采用了高分辨率、長工作距離-光路校正系統的物鏡成像技術。
*拓展了物鏡的復用技術，-遠物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法，芯片檢測顯微鏡廠家，并在每一觀察法中均提供清晰度高的圖像。
*采用非球面照明，增加觀察亮度。
---*視野目鏡，長工作距離明暗場金相物鏡。
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