能從紫外到紅外任意波長﹑λ為 1～500埃的各種干涉濾光片。金屬－介質膜濾光片的峰值透射率不如全介質膜高，但后者的次峰和旁帶問題較-。薄膜干涉濾光片中還有一種圓形或長條形可變干涉濾光片，粘度測量儀，適宜于空間天文測量。此外，還有一種雙色濾光片，它與入射光束成45°角放置，能以高而均勻的反射和透射率將光束分解為方向互相垂直的兩種不同顏色的光，適合于多通道多色測光。干涉濾光片一般要求垂直入射，當入射角增大時，向短波方向移動。
用電子束(eb)蒸發的tio2和sio2薄膜系統具有重要的應用。但是用常規的蒸發技術，即使基板的溫度-300℃以上，福建測量儀，薄膜仍呈現出明顯的柱狀結構特性。這種柱狀結構的薄膜，影像測量儀，由于膜層中包含著大量的空隙，因此隨著薄膜濾光片吸潮，膜層折射率升高，濾光片的中心波長就會產生明顯的漂移
這意味著薄膜的密度比自然界中的大塊材料的密度還要高，原因是在高-密度的薄膜中，高度測量儀，常常呈現出較大的壓應力，致使薄膜具有更高的-密度。但是，即使薄膜的-密度大于1，濾光片中心波長仍會出現漂移。已經認識到，影響薄膜濾光片中心波長漂移的不僅是-密度，而且還有薄膜與基板的溫度折射率系數和熱膨脹系數。所以濾光片的中心波長漂移可以簡單地表示為δλ=薄膜空隙吸潮引起的漂移+溫度折射率變化引起的漂移+熱膨脹引起的漂移。
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