技術要求
3.1整體技術指標
3.1.1 功能與測試對象
*1功能
gbt模塊動態參數測試。
*2測試對象
被測器件igbt模塊動態參數。測試溫度范圍 tj=25°及125°。
3.1.2 igbt模塊動態測試參數及指標
測試單元對igbt模塊和frd的動態參數及其他參數的定義滿足iec60747-9以及iec60747-2。
以下參數的測試可以在不同的電壓等級、電流等級、溫度、機械壓力、回路寄生電感以及不同的驅動回路參數下進行。
大功率半導體器件為何有老化的問題？
任何產品都有設計使用壽命，同一種產品不同的使用環境和是否得到相應的維護，便攜式igbt測試儀，延長產品使用壽命和設備-運行具有-重要。功率元件由于經常有大電流往復的沖擊，對半導體結構均具有一定的耗損性及破壞性，便攜式igbt測試儀批發，若其工作狀況又經常在其安全工作區的邊緣，便攜式igbt測試儀價格，更會加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一樣是不可避免的問題。若元件的工作條件超過其參數數據，元件可能會-燒毀或造成性的損壞。
1可調充電電壓源
用來給電容器充電，實現連續可調的直流母線電壓，滿足動態測試、短路電流的測試需求。
?輸入電壓380v±10%
?頻率50hz；
?輸出電壓500～1500v可調可多個電源組成
?輸出電流10a；
?電壓控制精度1%
?電壓調整率<0.1%；
?紋波電壓<1%；
?工作溫度室溫～40℃；
?保護有過壓、過流、短路保護功能。
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