電源冷熱沖擊測(cè)試方法:(1).在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1hr；(2).溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min., 并高溫烘烤1hr；(3).在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個(gè)周期后, 溫度回到常溫將s.m.p.s. 取出(至少恢復(fù)4小時(shí))；(4).確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無(wú)與測(cè)試前的差異。帝為生產(chǎn)
大家都知道，對(duì)測(cè)試系統(tǒng)影響較大的是產(chǎn)品制作。有實(shí)力的生產(chǎn)廠商，在生產(chǎn)流程中會(huì)根據(jù)產(chǎn)品的特性做出各種電源產(chǎn)品檢測(cè)。如果說(shuō)研發(fā)設(shè)計(jì)是充電寶測(cè)試系統(tǒng)的前提，那生產(chǎn)制作是的直接因素。除了常規(guī)的生產(chǎn)流程管理控制程序之外，優(yōu)化的工序、生產(chǎn)硬件設(shè)施，對(duì)充電寶進(jìn)行測(cè)試的
傳統(tǒng)的電源自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)以gpib 卡控制多臺(tái)傳統(tǒng)儀器，完成自動(dòng)化測(cè)試功能。整個(gè)系統(tǒng)受限于傳統(tǒng)儀器功能，不易擴(kuò)展，很難滿足產(chǎn)品升級(jí)所帶來(lái)的新的測(cè)試要求；受限于gpib 總線速度，很難實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試和提高測(cè)試速度；受限于封閉式的應(yīng)用軟件，很難進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù)和二次開發(fā)。另外，整個(gè)系統(tǒng)的硬件成本非常高，開發(fā)周期非常長(zhǎng)。現(xiàn)在用的
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