成都西野貿(mào)易有限公司為您提供日本leimac雷馬克偽同軸落射照明ifva系列。偽同軸落射照明，可實現(xiàn)高照度，高均 勻性和緊湊的外殼
可以使用半反射鏡以與相機軸相同的軸進行照射。
由于可以通過鏡面反射進行檢查，因此對于檢查表面上的細微劃痕，進行打印以及檢查字符非常有效。
它可用于廣泛的應用，例如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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