鍍層測厚儀 熒光光譜分析儀 膜厚測試儀

昆山市玉山鎮(zhèn)小麻雀精密儀器商行為您提供鍍層測厚儀 熒光光譜分析儀 膜厚測試儀。一六儀器：
儀器簡介：
xtd-200是一款---于檢測各種異形件，---適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
該系列儀器不但可以應(yīng)對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面---0-90mm以內(nèi)的異形件具備---的優(yōu)勢；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的---、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
技術(shù)參數(shù)：
1.涂鍍層分析范圍：氯cl/鋰li- ---u
2 厚度較低檢出限：0.005μm
3. 較小測量直徑0.2mm較小測量面積0.03mm2
4. 元素分析范圍：氯cl- ---u
5..成分較低檢出限：1ppm
檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·較小測量面積0.002m㎡·較深凹糟可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精密0.005mm，速度10-30mm(x-y)/圈，較小再多的樣品都沒難度，讓操作人員輕松---。
---研發(fā)團(tuán)隊(duì)在alpha和fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增---應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭---發(fā)出efp---算法，
單涂鍍層應(yīng)用：如ni/fe、ag/cu等
多涂鍍層應(yīng)用：如au/ni/fe、ag/pb/zn等
合金鍍層應(yīng)用：如znni/fe、znal/ni/cu等
合金成分應(yīng)用：如nip/fe，通過efp算法，在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)，還可分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素，也可測量和分析。
如---鐵硼磁鐵上的ni/cu/ni/fendb，一層ni和三層ni的厚度均可測量。
測量面積：較小0.04mm2
鍍層分析：23層鍍層24種元素
儀器特點(diǎn)：可手動(dòng)變焦
儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析
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