寧波培正電子科技有限公司為您提供半導體電阻率測試儀。半導體電阻率測試儀操作手冊
功能描述：
四探針組合雙電測量方法
液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.
集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.
選配：pc軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
提供中文或英文兩種語言操作界面選擇
參照標準：
1.硅片電阻率測量的標準astm f84.
2.gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.
3.gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.
4.gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
雙電組合測試方法：
利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試
半導體電阻率測試儀
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